涂層測(cè)厚儀，又稱鍍層測(cè)厚儀，膜層測(cè)厚儀等。該儀器可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
1、MC系列涂層測(cè)厚儀特性
    該產(chǎn)品是采用單片機(jī)技術(shù)、精度高、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、單探頭全量程測(cè)量等優(yōu)點(diǎn) ; 具有讀出、低電壓指示等功能 , 其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器先進(jìn)水平。
    本儀器是用電池供電的便攜式測(cè)量?jī)x器，采用磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量（相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)為SO2178和國(guó)標(biāo)GB4956）。它采用計(jì)術(shù)，無(wú)需損傷被測(cè)體就能準(zhǔn)確地測(cè)量出它的涂層厚度。
    可真接測(cè)量導(dǎo)磁材料（如鐵、鎳）表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷等）�？蓱�(yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、馬氏合金瓦、磷化層等的厚度測(cè)量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。該儀器 廣泛應(yīng)用于機(jī)械、 汽車、船舶、石油、 化工、電鍍、搪瓷、塑料等行業(yè)。
    具有耐磨質(zhì)金屬探針的彈簧導(dǎo)套式探頭，不但能在堅(jiān)硬或粗糙的表面上進(jìn)行測(cè)量，而且能保  證測(cè)頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣值。
 *數(shù)定顯示，無(wú)視差。
 *測(cè)量范圍寬，分辯率高。
 *自動(dòng)記憶校準(zhǔn)值，方便使用。
2．涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：
 顯示器：4位10mm液晶
 MC-2001 測(cè)試范圍：0-1500um
                MC-2002 測(cè)試范圍：0-2000um
 分辨率：1um
 測(cè)量精度：±(3%+1) um
 電源：4節(jié)5號(hào)電池
 操作條件：溫度0~40℃濕度<80%
 尺寸：161×69×32mm
                重量：260g（包括電池）

3.影響磁感應(yīng)涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的若干因素如下：
基體金屬磁化
磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的
 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在
不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置
探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形
探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量.表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。